1、Park FX40新型原子力显微镜
采用AFM双摄像头系统 能自动化实时更新海量数据纳米级的显微镜。Park FX只需鼠标一键操作，就能实现自动换针，以避免探针被污染或因操作不当而导致的探针损坏等问题。 用户还可以根据提示，选择不同的探针类型，应用类型和使用信息等。
样品台上可以同时放置高达四个不同量级的样品。即便如此，样品摄像头也可以轻松定位到相关位置进行精准扫描。探针识别系统可以帮助用户搜索相关探针的全部信息（包括探针类型，应用类型和使用信息等）使研究工作事半功倍。只需一键，Park FX40便可轻松助您选择所需要的探针。
探针识别摄像头可以加载探针芯片载体上的二维码，提取并显示每个可用探针的探针类型，应用类型和使用信息等相关信息。
通过自动换针方式，用户可轻松安全地进行自动换针。 利用装有8个探针的盒子和磁控机制的便利性，用户无需操作便可安装探针。
自动激光校准功能将激光定位到悬臂梁的适当位置，并进一步分别优化PSPD的垂直和横向位置。用户只需简单点击，移动X,Y和Z轴便可得到高清扫描图。
Park采用防碰撞传感器装置和连锁软件相结合，可以更好地保护针尖和AFM扫描器。通过算法编程，Z移动台只能在针尖与样品表面碰撞的极限内升降，避免因探针与样品相碰而产生损害，极大地提高了生产力和测量精准度。
智能扫描器显示并储存传感器的测量结果。传感器主要测量基本的环境条件，如温度，湿度，水平和振动。由此帮助用户在不同环境条件下扫描图像，为您筛选适宜的环境指标。
用户可以选择手动或自动探针安装功能，同时内置的智能系统会自动检测并在用户错误安装探针时发出警告，从而有效提高测量精准度。

2、Park NX10纳米科技研究的理想选择
Park NX10带来高精纳米级分辨率的数据，值得信赖、使用和拥有。无论是从样品设定还是到全扫描成像、测量与分析，Park NX10都可以提供高精度的数据。
Park NX10是一款非接触式原子力显微镜，在延长探针使用寿命的同时，还能良好地保护样品不受损坏。可弯曲的独立XY扫描仪和Z扫描仪可带来较高精准度和分辨率。Park NX10扫描离子电导显微镜模块为细胞生物学，分析化学，电生理学和神经科学提供纳米级成像。
专有的设计能轻易地用手从侧面更换新的探针和样品。借助安装悬臂式探针夹头中预先对齐的悬臂，无需再进行繁杂的激光校准工作。
主要特点：
具有低噪声Z探测器的精准AFM形貌图
Z轴探测器是新型NX系列原子力显微镜的核心技术之一。它是Park的应变传感器。凭借着0.2埃的低噪声一跃成为行业内噪声较低的Z轴探测器。低噪声让Z轴探测器可作为默认的形貌信号，NX系列原子力显微镜与前几代的原子力显微镜的差异可轻易被观察到。如果Z轴探测器的噪声过高，用户无法观察到蓝宝石晶片的原子台阶。Park NX系列原子力显微镜的Z轴探测器所发出的高度信号，其噪声水平与Z轴电压形貌相同。
适用于多种应用的AFM模式
Park NX10倾心打造，旨在满足各种计量和分析应用的需求。它为多个领域的研究人员提供了广泛的工具包。从标准成像到电化学分析，该仪器无缝支持多种原子力显微镜模式，展示了其对不同应用的适应性。借助Park NX10，研究人员可以自信地探索和深入研究科学问题，从而受益于这种多功能且可靠的工具，提升其工作的精准性和效率。
灵活开放式访问，可定制以适应各种研究环境
Park NX10允许用户轻松地根据研究环境进行设置，提供多样化的选项和配件，使其能够无缝地适应这些环境：优化热性和化学性能选项等。
为电化学分析而设计
Park NX10旨在应对广泛的研究和分析应用，特别优化了其电化学特性。这一前沿仪器提供了一系列为电化学分析功能量身定制的可选模式。通过为每种模式量身定制功能，它提供了一套全面的能力组合，以满足电化学科学探索和分析中多样化的需求。

3、Park NX7新手AFM研究的理想选择
Park NX7产生可以信赖、复制并以高纳米分辨率发布的数据。它配备了领域内有效的低噪声Z探测器，噪声仅为0.02纳米，覆盖大带宽。这保证了高度精准的样品形貌测量，没有边缘过冲现象。
Park NX7经过倾心打造，旨在满足多种计量和分析应用的需求。它以其较全面的模式范围脱颖而出，为多个领域的研究人员提供了广泛的工具包。从标准成像到电化学分析，该仪器支持多种原子力显微镜模式，展示了其对各种应用的适应性。借助Park NX7，研究人员可以自信地探索和深入研究科学问题，从而受益于这种多功能且可靠的工具，提升其工作的精准性和效率。
Park NX7允许用户根据研究环境进行设置，提供多样化的选项和配件，使其能够适应这些环境：优化热性和化学性能选项等。

4、Park FX200高性能200mm样品原子力显微镜
Park FX200是Park Systems在原子力显微镜（AFM）领域推出的一款机型，可适配最大200mm的样品。通过优化机械结构设计和信号处理方案，FX200在低噪声基线、热漂移控制以及机械稳定性方面具有优良表现，为纳米级测量提供了可靠支持。
FX200配备Park AFM系列采用的正交扫描系统与True Non-contact™模式，适用于对精细或易损样品的高分辨率测量。
FX200的主要功能包括自动探针更换、自动激光对准以及全视野200mm样品相机，这些设计旨在简化操作、提升实验效率。系统还具备扫描参数自动优化、光学自动对焦、多位置顺序测量及数据分析工具，方便用户完成多样化测量任务。
FX200结合了先进功能与直观的操作界面，为科研和工业领域的纳米成像与分析提供灵活的选择。
精密的FX机械设计
FX系列AFM在结构设计上减少了光学显微镜与Z轴平台之间的干扰，降低了机械振动的影响。Z轴平台采用高刚性交叉滚柱导轨和双轴承座结构，以增强稳定性。
宽梯形支撑结构与低热膨胀材料的组合，有助于在长时间运行中保持稳定性能。
FX激光光路
FX光学结构将光纤耦合激光器（超辐射二极管，SLD）集成到光学显微镜组件中。激光束通过物镜聚焦，并始终固定在光学视场的中心位置。 聚焦后的光斑尺寸较小，有助于减少溢出，并便于配合小尺寸、高频率的悬臂梁探针使用。
自动激光对准
视觉引导对准系统可检测悬臂的形状与位置，然后驱动光学XY平台，将悬臂定位到视场中心，实现激光的精准对焦。随后，FX扫描头内的两台高精度电机会调节导向反射镜，使激光束与位置灵敏光电探测（PSPD）的中心保持一致。
自动激光束校准结合自动PSPD居中功能，有助于缩短系统调试时间，提升对准过程的稳定性，并为不同经验水平的用户提供更为便捷的操作体验。
自动探针更换
AFM探针的更换过程需要较高的精度操作，若操作不当，可能造成悬臂损坏。Park AFM采用预先校准的探针芯片载体，并配备运动学安装定位点，以提升探针定位的一致性和重复性，从而减少更换过程中产生误差的可能。
每个芯片载体均配有二维码，包含探针类型、序列号、生产日期及规格等信息。
FX系列扫描头的Z扫描器设有三个高精度球座用于运动学安装，并在底部配备磁性结构，以提高安装位置的稳定性和重复精度。
自动探针更换（ATX）模块可存放至多16个预装探针。ATX摄像机读取探针二维码后，SmartScan™ AFM操作软件会显示各插槽的探针信息，用户可通过软件界面选择所需的探针或空闲插槽。
探针槽选择后，AFM扫描头会自动下移，根据底部强磁的位置，从探针槽中取出探针或将当前安装的探针放回探针槽。
样品全视野相机
全视野相机能够拍摄整个样品的宏观图像。用户可在图像中直接点击目标区域，控制XY平台移动至该位置，从而便于定位并在后续测量中回到相同区域，适用于200mm晶圆等大尺寸样品。
改进的同轴光学系统
聚焦后的光斑尺寸较小，有助于减少溢出，并便于配合小尺寸、高频率的悬臂梁探针使用。无遮挡式光学显微镜可提供优化的视场，并能分辨最小至0.87μm的线宽。