所属系列：ZJYQ-GYXWAFM-Naiosurf
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原子力显微镜NaioAFM概览：
纳米教学领域的优质AFM
一体化的即插即用的袖珍AFM系统
使用简单，众所周知
所有的标准操作模式都可用
NaioAFM 是纳米教学和小样品基础研究的理想原子力显微镜。 这一一体化的袖珍AFM系统提供了优质可靠的性能却操作方便，价格亲民，结构小巧，适用于广泛场合。
几分钟内就可以开始测量
使用NaioAFM, 仅需插上电源和USB线，启动界面友好的软件，几分钟内就可以开始工作，省掉了仪器设置的时间和麻烦，观看我们的OVERVIEW 视频你就可以知道。 因为NaioAFM带有悬臂校准芯片，悬臂更换也变得更加简单，繁琐激光校准也是过去式了。 观看悬臂更换视频你就可以发现换针是如此的方便。
NaioAFM 成像模式：
以下描述为仪器所具备的所有模式。某些模式可能需要其他组件或软件选项。
1、标准成像模式：
静态力模式
动态力模式(轻敲模式)
相位成像模式
2、磁性能：
磁力显微
3、电性能：
导电探针 AFM (C-AFM)
静电力显微 (EFM)
扫描扩散电阻显微(SSRM)
4、机械特性：
力谱
力调制
刚度和模量
附着力
力映射
5、其它测量模式：
光刻和纳米加工
原子力显微镜NaioAFM附加选项和组件：
1、侧视摄像头
USB数码侧视摄像头有1280 x 1024像素传感器和2 x 2 mm 视野。此侧视摄像头装在NaioAFM的顶部，在控制软件上显出侧面视图。 它可帮助用户观察在手动或自动趋近时微悬臂到样片的距离。
2、防震隔离台 300
用Nanosurf的防震隔离台可实现无震动干扰的测量
3、各种模式套件
动态力模式盒
EFM模式盒
力调制模式盒
相位成像模式盒
标准光刻模式盒
标准MFM 模式盒
标准光谱模式盒
静态力模式盒
4、AFM 扩展样片套件
AFM 扩展样品套件包括10个不同学科的样本以及样品处理工具。该工具包附有一份详细的手册,既可支持课程开发,也可用作每次测量的课堂指南。
原子力显微镜NaioAFM技术参数：
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扫描头 |
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最大扫描范围 / 扫描高度 (分辨率) (1) |
70 µm (1.0 nm) / 14 µm (0.2 nm) |
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静态 / 动态 RMS Z-噪音 |
典型值 0.4 nm (最大 0.8 nm) / 典型值 0.3 nm (最大 0.8 nm) |
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最大样片尺寸 / 高度 |
12 mm / 3.5 mm |
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最大样片台定位范围 |
最大每个方向12 mm (从中心到四面 6 mm ) |
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顶视摄像头 |
3×3 mm FOV, 4× 数字变焦, 2 µm 光学分辨率, 2048×1536 像素, 轴内 LED 照明 |
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侧视图观察 |
5×5 mm FOV, 可变 LED 照明(可选侧视图摄像头: 2×2 mm FOV, 1280×1024 像素) |
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样品趋近 |
4 mm 线性马达, 连续趋近或步进 |
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(1) 制造公差 ±10% |
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