ZDY-502型常量水分滴定仪产品简介：ZDY-502型常量水分滴定仪具有防漏液装置和废液瓶防倒吸装置；全自动进液、排液、KF试剂混合以及自动清洗功能，防滴定杯溶液溢出保护功能；防止用户直接接触KF试剂，保证测量和使用工作人员和环境的安全。ZDY-502型常量水分滴定仪主要特点：l 点阵式液晶显示，按键操作，电脑中文软件同时控制或分别控制；实时显示有关测试方法、测量结果；l “对话式”操作步骤，轻松完成滴定设置和过程操作；l 无污染测量分析过程：防漏液装置和废液瓶防倒吸装置；全自动进液、排液、KF试

　　ZDY-504型水分测定仪产品简介：ZDY-504型水分测定仪支持包括容量法、库仑法全范围水分含量的测量，满足常量水分、微量水分的不同用户测量需求。ZDY-504型水分测定仪主要特点：l 支持包括容量法、库仑法全范围水分含量的测量，满足常量水分、微量水分的不同用户测量需求；l 点阵式液晶显示，按键操作，电脑中文软件同时控制或分别控制；实时显示有关测试方法、测试结果；l “对话式”操作步骤，轻松完成滴定设置和过程操作；l 无污染测量分析过程：防漏液装置和废液瓶防倒吸装置；全自动进液、排液、KF试剂混

　　美国Rudolph鲁道夫糖度分析仪Autopol 880主要特点：• 销量大的糖度分析仪• 得到SPRI认可的糖度分析仪• 广泛应用于糖度的检测和研究• 全球用户过2500个美国Rudolph鲁道夫糖度分析仪Autopol 880产品参数：测量波长589nm,880nm波长切换自由切换测量范围225Z分辨率0.01Z光路器件方解石棱镜温度范围20-40℃控温准确度0.1℃校准一次操作自动校准测量模式糖度、旋光度、纯度或用户自定义美国Rudolph鲁道夫糖度分析仪Autopol 589主要特点：• 销量大的

　　进口折光仪品牌|自动折光仪参数|Rudolph鲁道夫折光仪型号示例：1、折光仪 J457品牌：Rudolph/鲁道夫★ 测量范围：1.26-1.72RI0-100Brix 宽测量范围可以满足各种样品的测量需求。★ 测量精度：0.000001RI,0.001Brix★ 测量准确度：0.00002Rl,0.01Brix★ 温度控制：半导体双控温，既可以控制样品池的温度，也可以控制样品盖的温度，力求样品所在的舱体温度稳定。★ 控温精度：0.01℃★ 智能检测“Smart Measure”技术：具有“SmartM

　　Microtrac新设计的BELPYCNO采用氦气、氮气和SF6 等惰性气体做为置换介质。样品密封在已知体积的样品室中，一定压力的惰性气体进入样品室，然后气体膨胀到另外一个膨胀室中。膨胀前后的压力由传感器测定并计算得到样品的体积，用样品称重的质量除以测定出来的体积得到样品的真密度。• 配件室内置在仪器主机里，方便用户取用• 不同尺寸的校准球和样品室、夹取镊子存放在配件室中• 仪器带有阀设计，过高进气压力通过阀排气来降低全自动真密度分析仪BELPYCNO产品参数：精度0.03%（F.S. of readin

　　全自动真密度计BELPYCNO L，是成熟的固体材料，糊状或液体的真密度测试仪。基于气体置换技术，仪器可以测定单一材料的真实密度，也可以测试两种混合物的组成比例。为用户提供了快速测试和高精度的结果。真密度是固体和粉体材料一个重要的物性参数。这一测试广泛的用于下面的材料：陶瓷，矿物，地质学，药物，冶金，颜料，建材，发泡材料，塑料，高分子，磨料，催化剂等。简单有效BELPYCNO L真密度计使用氦气作为测试气体。氦气具有非常小的原子尺寸，可以渗入固体材料中小的缝隙或孔隙，可以测定真实固体样品占据的体积。干燥样

　　上海铸金的 ZJ-8 0 系 列次氯酸钠在线式探头，插入 式 检 测次氯酸钠溶液浓度， 带温度补偿，检测结果更为准确。通过独特的光学设计，对不同浓度的次氯酸钠溶液进行光学分析和检测。本产品适用于：次氯酸钠生产商、次氯酸钠溶液使用方、次氯酸钠发生器等场景。功能特点:► 光 学检测：无需试剂，不产生废液，无二次污染；► 温度补偿：内置 RTD 温度补偿功能，检测结果准确► 耐污染设计：降低维护清洗的需求； 技术参数ZJ-801ZJ-802 检测方法 光谱

　　便携式次氯酸钠检测仪ZJ-1A图片、型号、参数等信息

　　Mitutoyo三丰测高仪|带表高度卡尺|数显高度尺|高精度测高仪Mitutoyo三丰测高仪有游标高度卡尺、带表高度卡尺、数显高度卡尺、高性能测高仪、高精度测高仪等多个系列。Mitutoyo三丰测高仪|代表高度卡尺|数显高度尺|高精度测高仪示例：特点：.指示精度:可达(1.1+0.6L/600)μm.简单的一键操作.使用彩色TFT液晶.USB-存储容量无限制.协助测量动作的高精度空气轴承.超强的测量.演算功能.可实现测量工作的标准化.统计分析功能协助质量管理.具有高度兼容性的数据处理装置.丰富多样的外部接

　　TESA全系列测高仪包括TESA-HITE，TESA-HITE Magna，TESA MICRO-HITE，TESA MICRO-HITE +M，TESA HITE，测量范围涵盖0~100mm，0~350mm，0~400mm，0~600mm，0~700mm，0~900mm，同时还有多种测头、支架等附件可供选择，可以满足用户在不同的使用环境中完成所需的各项测量任务。01 TESA-HITE系列：手动，光栅测量系统，测量范围0~400mm/0~700mm02 TESA-HITE Magna系列：手动，磁栅测量

　　Trimos高度尺/测高仪/高度规示例：1、高度计TVMTVM 仪器非常适合高度测量和划线工作，并且在各种车间条件下都可靠。该仪器采用特、紧凑的设计，具有出色的移动性和高的稳定性。由于其的测量系统，TVM的立工作时间为一年。因此，它可用于车间区域的多种应用。操作简单，允许用户不断更换，无需任何耗时的培训。TVM 在竞争性指标中取得了显着的成功。全球有过 14,000 台仪器在使用。提供适合各种测量应用的多种附件2、高度尺V3高度计 V3专为困难的车间环境而。它们全部在瑞士，从长远来看将力求产品坚固、准确和

　　库仑法镀层厚度测量仪COULOSCOPE CMS2 和 COULOSCOPE CMS2 STEP台式库伦测厚仪在一定的厚度以上，X射线荧光对镀层的无损测量达到了JI限，这就是COULOSCOPE®CMS2发挥作用的地方。它用库仑法测量多种金属镀层的厚度，这是做相当简单的退镀处理。COULOSCOPE CMS2可以准确地测量许多常见的单层和多层镀层。库仑法的成本效益高，可精Q地替代X射线荧光法-前提是你可以接受一种破坏性的测量方法。它为您提供了较大的灵活性，因为它可以用于广泛的镀层组合。您可