电子显微镜(EM)品牌进口|HITACHI日立扫描电子显微镜|SU5000热场式场发射扫描电镜特点：▲高性能电子光学系统二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kV)＊高灵敏度: PD-BSD, 强的低加速电压性能，低至100 V成像大束流(>200 nA): 便于微区分析▲性能优良压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配备高灵敏度低真空探测器(UVD)＊开仓室快速简单换样(大样品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH)微区分析: EDS, WDS,

　　随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术，同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。*设备照片包含选配项。日立场发射扫描电子显微镜SU8600系列特点：★高分辨成像日立的高亮度电子源可力求了即使在低着陆电压下，也可获得高分辨的图像。★高衬度的低加速电压背散射图像3D NAND截面观察;在低加速电压条件下，背散射电子信号能够明显的显示出氧化硅层和氮化硅

　　TM4000PlusIII/TM4000III的特点：★节省人力成本，降低操作技术难度▲多样品自动化观察：观察工作流程的自动化功能（TM4000PlusIII）可以作为程序保存样品台移动、倍率变更、拍照等观察流程。程序化的观察流程，一键单击即可自动执行操作。为不同类型客户（如日常使用量较多，需进行多样品观察的客户，对观察条件不确定的客户等）节省人力成本，降低操作技术难度。▲实现快速自动颗粒分析：大电流功能 + AZtecLiveLite 颗粒分析功能工业产品的清洁度分析和使用过滤膜收集颗粒并进行自动分析的

　　更灵活的成像工具 – 配备Gemini 1镜筒的蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 360可以实现各种样品的高分辨成像、分析和各种应用需求的拓展。更强大的分析能力 - 配备Gemini 2镜筒的蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 460可应对更加复杂的分析工作。连续可调的大束流使您可以在成像和分析条件之间无缝切换。更高性能的表征体验 - 蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM 560配有Gemini 3镜筒及其新型电子光学引擎，让它在各种工作条件下均可发挥该系列高分辨率特性。★司场发射扫描电镜Gemin

　　日立高新推出的扫描电镜SU3800/SU3900兼具操作性和扩展性，结合众多的自动化功能，可发挥其高性能。SU3900标配多功能大样品仓，可应对大型样品的观察。日立电镜_钨灯丝扫描电镜_SU3800/SU3900扫描电子显微镜特点：①SU3900标配多功能大样品仓，可应对大型样品的观察■样品台可搭载大/重样品通过更换样品提示，可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品选配样品交换仓，可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品，大大提高了工作效率具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度*红外CCD探测器，提高了样

　　FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现直观的视野移动。尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率凭借特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD*2），可在低加速/低真空下观察时实现高的画质全新的用户界

　　蔡司MultiSEM扫描电子显微镜简介：借助 MultiSEM 显微镜，您可以充分运用 91 条并行电子束的采集速度。现如今，您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款扫描电子显微镜（SEM）专为 7 x 24 小时的连续、可靠运行而设计。只需简单设置高性能数据采集流程，MultiSEM 便能够立地自动完成高衬度图像采集。使用成熟的 ZEN 成像软件控制 MultiSEM：您可以直观灵活地管理这款高性能扫描电子显微镜的所有功能选项。蔡司MultiSEM扫描电子显微镜特点：n以较高速度和纳米分辨率采集图像=9

　　CUBE系列台式扫描电镜是一款紧凑型桌面扫描电子显微镜。区别于传统扫描电镜的笨重机身，CUBE系列占地面积小，便携性能好，无需特殊安装环境，用户可遵照客户服务指南任意移动SEM设备，节约空间成本。中心倾斜对于3D重构功能至关重要，CUBE系列提供马达驱动多功能样品台，可进行XYZ运动切换，方便用户轻松找到理想检测区域。并且CUBE系列拥有自动拍摄功能与图片自动拼接功能，快速获取所需要的质量信息，自动化操作减少人为失误。CUBE系列台式扫描电镜特点：高分辨率,与落地式SEM一样优异高空间利用率和便携性，易于

　　AFM作为一种扫描探针显微镜(SPM : Scanning Probe Microscope),使用前端直径为数纳米(1纳米：百万分之一毫米)的尖锐探针扫描样品表面，可同时实现纳米级别的样品表面的形貌观察和物性映射评估。AFM已广泛应用于电池材料、半导体、高分子、生物材料等各个领域的科学研究开发和质量管理。AFM100/100Plus，非专业人员都能轻松且稳定地获取可靠数据，从而完成从科学研究用途到质量管理中的日常作业。特别是AFM100 Plus，其用途十分广泛，可用于从观察石墨烯和碳纳米纤维等纳米材料

　　扫描探针显微镜AFM5500MⅡ配置宽范围平板扫描器，降低了机械原因造成的测量误差。自动悬臂更换等自动化功能有助于提升品质管理，提高测试效率。单使用AFM5500MⅡ测试可以得到形貌和物理测量结果，再利用与SEM/CSI等其他显微镜的共享坐标样品台功能，可以实现高精度的故障解析与缺陷评价。此外，由于新增了AFM标记功能，多台设备可以轻松测量样品的同一位置。HITACHI日立全自动扫描探针显微镜AFM5500MⅡ规格：型号AFM5500M尺寸・重量装置外观尺寸・重量※1750 mm(W) x 877 mm(

　　AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面，标准配备参数自动设置功能(RealTune® II)，即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时，也能快速获得准确的测量数据。1. RealTune® II的参数自动设置功能有的参数自动设置功能！RealTune® II可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数，可以根据样品表面的形貌、扫描范围、扫描速度以及使用的悬臂的状况，率、高精度地调整成合适的测量条件。通过新增加的参数自动设置功能（RealTun

　　Park原子力显微镜型号多样满足实验室研发到车间测量不同应用类型需求。Park原子力显微镜型号示例：FX300、FX200、NX40、NX20、NX15、NX10、NX7等。